Mid Sweden University

miun.sePublikasjoner
EnglishSvenskaNorsk
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
In-situ Characterization of Charge and Mass Transport using a combined STM and TEM
Mittuniversitetet, Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier, Institutionen för teknik, fysik och matematik.ORCID-id: 0000-0001-7329-3359
Vise andre og tillknytning
2006 (engelsk)Inngår i: 16th International microscopy congress, Sapporo, Japan 2006, 2006Konferansepaper, Publicerat paper (Annet vitenskapelig)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2006.
Emneord [en]
nanotechnology nanoteknik temspm
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:miun:diva-3921Lokal ID: 4295OAI: oai:DiVA.org:miun-3921DiVA, id: diva2:28953
Tilgjengelig fra: 2008-09-30 Laget: 2008-09-30 Sist oppdatert: 2025-09-25bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Person

Olin, Håkan

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Olin, Håkan
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 1079 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.47.0
|
WCAG
|
Mittuniversitetets bibliotek
|
Mittuniversitetet - Forskning
|
DiVA Login
|
Kontakt