miun.sePublikationer
Ändra sökning
Avgränsa sökresultatet
1 - 2 av 2
RefereraExporteraLänk till träfflistan
Permanent länk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Träffar per sida
  • 5
  • 10
  • 20
  • 50
  • 100
  • 250
Sortering
  • Standard (Relevans)
  • Författare A-Ö
  • Författare Ö-A
  • Titel A-Ö
  • Titel Ö-A
  • Publikationstyp A-Ö
  • Publikationstyp Ö-A
  • Äldst först
  • Nyast först
  • Skapad (Äldst först)
  • Skapad (Nyast först)
  • Senast uppdaterad (Äldst först)
  • Senast uppdaterad (Nyast först)
  • Disputationsdatum (tidigaste först)
  • Disputationsdatum (senaste först)
  • Standard (Relevans)
  • Författare A-Ö
  • Författare Ö-A
  • Titel A-Ö
  • Titel Ö-A
  • Publikationstyp A-Ö
  • Publikationstyp Ö-A
  • Äldst först
  • Nyast först
  • Skapad (Äldst först)
  • Skapad (Nyast först)
  • Senast uppdaterad (Äldst först)
  • Senast uppdaterad (Nyast först)
  • Disputationsdatum (tidigaste först)
  • Disputationsdatum (senaste först)
Markera
Maxantalet träffar du kan exportera från sökgränssnittet är 250. Vid större uttag använd dig av utsökningar.
  • 1.
    Dahlström, Christina
    et al.
    Mittuniversitetet, Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier, Institutionen för naturvetenskap, teknik och matematik.
    Allem, Rafik
    FPInnovations, Pointe Claire, PQ, Canada.
    Uesaka, Tetsu
    Mittuniversitetet, Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier, Institutionen för naturvetenskap, teknik och matematik.
    New Method for Characterizing Paper Coating Structures Using Argon Ion Beam Milling and Field Emission Scanning Electron Microscopy2011Ingår i: Journal of Microscopy, ISSN 0022-2720, E-ISSN 1365-2818, Vol. 241, nr 2, s. 179-187Artikel i tidskrift (Refereegranskat)
    Abstract [en]

    We have developed a new method for characterizing microstructures of paper coating using argon ion beam milling technique and field emission scanning electron microscopy. The combination of these two techniques produces extremely high-quality images with very few artefacts, which are particularly suited for quantitative analyses of coating structures. A new evaluation method has been developed by using marker-controlled watershed segmentation technique of the secondary electron images. The high-quality secondary electron images with well-defined pores makes it possible to use this semi-automatic segmentation method. One advantage of using secondary electron images instead of backscattered electron images is being able to avoid possible overestimation of the porosity because of the signal depth. A comparison was made between the new method and the conventional method using greyscale histogram thresholding of backscattered electron images. The results showed that the conventional method overestimated the pore area by 20% and detected around 5% more pores than the new method. As examples of the application of the new method, we have investigated the distributions of coating binders, and the relationship between local coating porosity and base sheet structures. The technique revealed, for the first time with direct evidence, the long-suspected coating non-uniformity, i.e. binder migration, and the correlation between coating porosity versus base sheet mass density, in a straightforward way.

  • 2. Prikulis, J.
    et al.
    Murty, K.V.G.K
    Olin, Håkan
    Chalmers University of Technology.
    Käll, M.
    Large-area Topography Analysis and Near-field Raman Spectroscopy using Bent Fibre Probes2003Ingår i: Journal of Microscopy, ISSN 0022-2720, E-ISSN 1365-2818, Vol. 210, nr 3, s. 269-273Artikel i tidskrift (Refereegranskat)
    Abstract [en]

    We present a method for combined far-field Raman imaging, topography analysis and near-field spectroscopy. Surface-enhanced Raman spectra of Rhodamine 6G (R6G) deposited on silver nanoparticles were recorded using a bent fibre aperture-type near-field scanning optical microscope (NSOM) operated in illumination mode. Special measures were taken to enable optical normal-force detection for control of the tip–sample distance. Comparisons between far-field Raman images of R6G-covered Ag particle aggregates with topographic images recorded using atomic force microscopy (AFM) indicate saturation effects due to resonance excitation.

1 - 2 av 2
RefereraExporteraLänk till träfflistan
Permanent länk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf