miun.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Extremely Thin Silicon DE Detectors For Ion Beam Analysis
Mittuniversitetet, Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier, Institutionen för informationsteknologi och medier.
1998 (Engelska)Ingår i: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms, ISSN 0168-583X, Vol. B 136-138, s. 616-Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
1998. Vol. B 136-138, s. 616-
Nyckelord [en]
DE detector ion beam analysis
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:miun:diva-1561Lokalt ID: 771OAI: oai:DiVA.org:miun-1561DiVA, id: diva2:26593
Tillgänglig från: 2008-09-30 Skapad: 2008-09-30 Senast uppdaterad: 2011-01-10Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Thungström, Göran

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Thungström, Göran
Av organisationen
Institutionen för informationsteknologi och medier
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 270 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf